Sistema compacto de ensayo de defectos superficiales longitudinales
El CIRCOGRAPH CI combina un diseño compacto con un manejo intuitivo en un sistema de ensayo rotativo de alta precisión. El CIRCOGRAPH CI dispone de una unidad de manejo fácil de usar, así como de un sencillo interruptor giratorio "Turn-and-Push". El sistema de 2 canales puede ajustarse de forma óptima a sus tareas de ensayo gracias a una amplia gama de cabezales giratorios diferentes. De este modo, se pueden detectar defectos longitudinales en la superficie del material a partir de profundidades de hasta 30 µm.
Sus ventajas de un vistazo:
Diseño compacto
Manejo sencillo gracias a la unidad de operación integrada y al funcionamiento "turn-push"
Sistema de comprobación universal, adaptable a las aplicaciones y necesidades individuales
sistema de pruebas de 2 canales
Pruebas continuas y sin fisuras
Resolución de la profundidad del defecto a partir de 30 µm
Datos técnicos
Material de prueba: - Material ferromagnético, austenítico y no ferromagnético
Sistema de sensores: - Sistema de sensores giratorios con un máximo de dos (Ro 20 y Ro 35) cabezales de prueba opuestos
Frecuencias de excitación: - 30 kHz - 1 MHz
Rendimiento máximo: - 3 m/s durante las pruebas continuas
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