Sistema de medición para oblea EPS200MMW

microscopio

Una solución completa para mediciones de mmW, THz y de tracción de carga a 67 GHz y más allá. Solución a medida que satisface las necesidades de medición de componentes activos y pasivos en el rango de frecuencias de terahercios. Permite el mayor rango dinámico y directividad, todo ello sin comprometer la precisión eléctrica ni la estabilidad mecánica. El EPS200MMW es una solución de sondeo dedicada que incluye todo lo necesario para lograr resultados de medición precisos de forma eficaz, incorporando los métodos y conceptos de diseño más conocidos para el sondeo hasta las frecuencias de THz.Con una sólida estructura de fundición y una platina con soporte de cuatro puntos, el EPS200MMW ofrece una excelente estabilidad, lo que facilita la obtención de una gran precisión. Su base de granito pulido elimina cualquier influencia térmica o mecánica, garantizando una excelente planitud y estabilidad del sistema. Una solución integrada de aislamiento de vibraciones y una mesa opcional de aislamiento de vibraciones mantienen los contactos de alta calidad a lo largo de las mediciones.Las exclusivas opciones de SIGMA™ integran a la perfección los cabezales mmW y los sintonizadores de tracción de carga de los principales proveedores de instrumentos de medición, lo que permite el mayor rango dinámico y la mayor directividad sin comprometer la precisión eléctrica y la estabilidad mecánica. El microscopio SlimVue™ mitiga las interferencias mecánicas para la óptica de gran aumento necesaria para el sondeo de pequeñas almohadillas