El Asistente de Medición Autónomo de Fotónica de Silicio de FormFactor establece el estándar de la industria en el sondeo de fotónica de silicio a nivel de oblea y matriz. Esta solución altamente flexible proporciona una multitud de tecnologías de prueba, desde fibras individuales hasta matrices y desde el acoplamiento vertical hasta el acoplamiento en el borde. Con el nuevo y revolucionario OptoVue para calibraciones avanzadas, los algoritmos inteligentes de visión artificial y el exclusivo SiPh TopHat para entornos oscuros, protegidos y libres de heladas, el sistema permite la calibración y recalibración autónoma a múltiples temperaturas. De este modo, es posible realizar mediciones más rápidas y precisas y reducir el coste de las pruebas.
El uso de fibras ópticas individuales y matrices de fibras como sondas para acoplar la luz dentro y fuera de una oblea, tanto para el acoplamiento de superficie como de borde, crea muchos desafíos que FormFactor gestiona a través de su tecnología Contact Intelligence. A diferencia de las pruebas eléctricas, las pruebas ópticas utilizan fibras y matrices de fibras que no entran en contacto con sus correspondientes "almohadillas" conocidas como acopladores de rejilla o facetas en la superficie y el borde de la oblea, respectivamente. En su lugar, las fibras deben articularse en relación con los acopladores y las facetas para encontrar la posición de máxima transferencia de potencia óptica.
El establecimiento de la posición inicial de las puntas de las fibras o de los conjuntos de fibras en relación con las rejillas y las facetas y la posterior optimización de su posición se lleva a cabo mediante técnicas automatizadas exclusivas desarrolladas por los ingenieros de FormFactor. Utilizando el procesamiento avanzado de imágenes y algoritmos especialmente desarrollados, se puede realizar el ajuste de la altura Z, la separación entre fibras y facetas, así como un conjunto de calibraciones automatizadas de la solución de posicionamiento a la estación de sondeo.
---