Probe card HFTAP Series

El rendimiento líder en la industria del producto HFTAP K32 se une a la serie de tarjetas de sonda de pruebas de alta frecuencia de FormFactor, que incluye las K10, K16 y K22 utilizadas para probar dispositivos DRAM de 1,0 GHz, 1,6 GHz y 2,2 GHz. La tecnología avanzada de PCB, disponible exclusivamente en FormFactor, permite la comunicación más rápida entre el dispositivo bajo prueba (DUT) y el equipo de prueba automatizado (ATE). Utilizando la arquitectura Matrix de FormFactor, las tarjetas de sonda HFTAP K32 pueden realizar pruebas a velocidades que ningún otro contactor de obleas completo puede alcanzar. La capacidad ampliada de la arquitectura de la tarjeta de sonda HFTAP K32 de FormFactor permite a los clientes de DRAM realizar pruebas de velocidad a nivel de oblea de hasta 3,2 GHz/ 6,4 Gbps para la próxima generación de memorias "known-good-die" (KGD). La reciente adopción por parte de la industria de sistemas integrados heterogéneos habilitados por la tecnología de empaquetado avanzado 2,5D y 3D está impulsando la demanda de KGD. La ventaja de las pruebas de KGD garantiza que el paquete final apilado y ensamblado no sea desechado por un chip defectuoso. Esta avanzada arquitectura de tarjetas de sondeo MEMS se utiliza para verificar el rendimiento eléctrico y la producción, no sólo de los chips individuales, sino también de los dispositivos utilizados en la pila de HBM, incluido el intercalador de paso fino para garantizar el rendimiento del paquete completo. La solución de tarjeta de sonda HFTAP K32 permite a los clientes obtener más información en cualquier fase del proceso de integración heterogénea de paquetes avanzados, donde la forma tradicional de optimizar el rendimiento en una matriz de silicio monolítica ya no es adecuada. Las soluciones de tarjetas de sondeo HFTAP están disponibles a velocidades inferiores en función de los requisitos del dispositivo.