Sistema de medición de rugosidad MicroProf® 200

no destructivode alta resolución

El FRT MicroProf® 200 es un dispositivo de medición de alto rendimiento para la caracterización sin contacto y no destructiva de casi todas las superficies y películas. Esta herramienta de medición de superficies se basa en nuestra consolidada tecnología SurfaceSens y puede realizar numerosas tareas de medición en un solo sistema. Un sensor CWL de alta resolución permite la medición fácil y fiable de muchos parámetros, como la topografía, la rugosidad y el contorno. Con una amplia gama de sensores adicionales, también es posible adaptar el MicroProf 200 individualmente a su tarea de medición. Utilizando el módulo TTV para la inspección desde ambos lados o utilizando el módulo para la manipulación automática de muestras (MHU), el MicroProf 200 también puede adaptarse fácilmente a sus nuevos requisitos de medición en cualquier momento. Con estas capacidades, la herramienta puede satisfacer los más altos requisitos de automatización.