La combinación de dinamómetro electrónico y multímetro digital permite medir cómo cambia el comportamiento de los productos conductores y semiconductores cuando se someten a ciclos de deformación.
Es posible someter las probetas a deformación en tracción, compresión o flexión.
Las mediciones pueden realizarse a temperatura ambiente o en cámara climática (entre -40 °C y +250 °C).
El multímetro permite medir resistencias eléctricas entre 10 Micro-Ohms y 120 Mega-Ohms.
Configuración del instrumento La configuración del instrumento incluye:
- Probador de tracción estándar Gibitre
- Multímetro digital de alta precisión
- Pinzas aisladas eléctricamente para permitir la medición de la resistencia eléctrica de la probeta durante el ciclo de deformación aplicado.
El instrumento puede equiparse con una cámara climática para realizar ensayos a temperatura controlada.
El Software TensorCheck permite el control completo y simultáneo del instrumento, el multímetro y la Cámara Ambiental y procesa las señales de Fuerza, Desplazamiento, Temperatura y Resistividad.
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