Sistema de medición óptico C10178-03E

de espesorcon calibrepara films

El sistema de medición de espesor Optical NanoGauge C10178 es un sistema de medición de espesor de película sin contacto que utiliza la interferometría espectral. El grosor de la película se mide rápidamente con alta sensibilidad y gran precisión a través de la interferometría espectral. Nuestros productos utilizan un espectrómetro multicanal PMA como detectores, lo que permite medir los rendimientos cuánticos, la reflexión, la transmisión/absorción y otros puntos diversos, al tiempo que se mide el grosor de diversos filtros ópticos y películas de revestimiento, entre otros. Características - Alta velocidad y alta precisión (rango de medición del espesor de la película (vidrio):150 nm～50 μm) - Medición en tiempo real - Medición precisa de la película fluctuante - Analiza las constantes ópticas (n, k) - Control externo disponible - Se puede medir el rendimiento cuántico, la reflectancia, la transmitancia y la absorción con accesorios específicos Especificaciones Número de tipo : C10178-03E Modelos de medición (características) : soporta NIR Rango de espesor de película medible (vidrio) : 150 nm a 50 μm*1 Reproducibilidad de la medición (vidrio) : 0,05 nm*2 *3 Precisión de la medición (vidrio) : ±0,4 %*3 *4 Fuente de luz : Fuente de luz halógena Longitud de onda de medición : 900 nm a 1650 nm Tamaño del punto : Aproximadamente φ1 mm*3 Distancia de trabajo : 10 mm*3 Número de capas medibles : Max. 10 capas Análisis : Análisis FFT, Análisis de ajuste, Análisis de la constante óptica Tiempo de medición : 19 ms/punto*5 Forma del conector de fibra : Forma de manguito φ12 Función de control externo : RS-232C, PIPE, Ethernet Fuente de alimentación : AC200 V a AC240 V , 50 Hz/60 Hz Consumo de energía : Aproximadamente 230 VA