Microscopio óptico C11222-16

de inspeccióninfrarrojo cercanocon cámara digital

El PHEMOS-1000 es un microscopio de emisión de alta resolución que localiza los fallos en los dispositivos semiconductores mediante la detección de las débiles emisiones de luz y calor causadas por los defectos de los dispositivos semiconductores. Dado que el PHEMOS-1000 se puede utilizar en combinación con un probador de uso general, puede realizar diversas tareas de análisis utilizando las configuraciones de muestras con las que ya está familiarizado. La instalación de un sistema de escaneo láser opcional permite adquirir imágenes de patrones de alta resolución. Existen diferentes tipos de detectores para diversas técnicas de análisis, como el análisis de emisiones, el análisis térmico y el análisis IR-OBIRCH. El PHEMOS-1000 es compatible con una amplia variedad de tareas y aplicaciones que van desde las placas de encaje del prober hasta un prober de obleas de gran tamaño de 300 mm. Características - Dos cámaras de ultra alta sensibilidad montables - Se pueden montar láseres de hasta 3 longitudes de onda y una fuente de luz de sondeo para EOP - Equipada con una platina óptica adecuada para diversas muestras Opciones - Incluye sistema de exploración láser - Análisis de emisión con cámara de infrarrojo cercano de alta sensibilidad - Análisis térmico con cámara de infrarrojo medio de alta sensibilidad - Análisis IR-OBIRCH - Análisis dinámico por irradiación láser - Análisis de sondeo EO - Análisis de alta resolución y alta sensibilidad mediante NanoLens - Conecta con la navegación CAD - Conecta con el probador LSI