Se utiliza principalmente en la electrónica de información aeroespacial y otros campos para determinar la adaptabilidad ambiental y la prueba de fiabilidad de los instrumentos, productos eléctricos, materiales, piezas y equipos a baja presión, alta temperatura y baja temperatura o al mismo tiempo, y para medir los parámetros de rendimiento eléctrico de las muestras cuando están energizadas.
Norma:
Prueba de alta temperatura GJB150.3-1986;
GJB150.4-1986 prueba de baja temperatura;
GJB150.6-1986 prueba de altura de temperatura;
IEC 60068-2-1: 2007, Ensayos ambientales - Parte 2-1: Ensayos - Ensayos A: Frío, IDT;
IEC60068-2-2:2007,Pruebas ambientales-Parte 2-2:PruebasTestB:Calor seco,IDT;
GJB360A-1996 Método 105: Prueba de baja presión;
IEC 60068-2-13:1983,Procedimientos básicos de ensayo ambiental-
Parte 2:EnsayoM:Baja presión de aire,IDT
IEC60068-2-40:1976,Procedimientos básicos de ensayo ambiental- Parte2:EnsayosZ/AM:Ensayos combinados de frío/baja presión de aire,IDT
GB/T2423.26-1992 prueba Z / BM: prueba integral de alta temperatura / alta presión.
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