Sistema de prueba MOSFET MX300C

para IGBTautomático

La serie MX300C es un sistema automatizado de prueba de características térmicas para semiconductores de potencia. Consta de unidad de muestreo, unidad de control de temperatura, unidad de alimentación y unidad de control del sistema. Está indicado principalmente para pruebas de ciclos de potencia y pruebas de resistencia térmica de semiconductores de potencia, como IGBT (materiales Si/SiC/GaN), MOSFET, DIODO, etc., para evaluar el rendimiento de los semiconductores de potencia durante su vida útil. Funciones Prueba de ciclos de potencia Prueba de resistencia térmica/prueba de resistencia térmica transitoria (Rth/Zth) Prueba de la curva K Resistencia térmica de la unión a la carcasa (RJC) Prueba de corriente de fuga de puerta (IGES) Ventajas del producto Alta precisión para placa de temperatura constante. Función de diagnóstico de fallos en tiempo real. Función de monitorización remota. Protección múltiple: sobretemperatura, alarma de humo, detección de fugas de refrigerante, etc. Compatibilidad: Prueba de IGBT/DIODO/MOSFET/BJT/SCR. Sistema de alimentación UPS: garantiza la seguridad del sistema y de los datos en condiciones de apagado. . Prueba de ciclos de alimentación . Prueba de resistencia térmica/prueba de resistencia térmica transitoria (Rth/Zth) . Prueba de la curva K