Medidor por fluorescencia de rayos X con mesa X/Y programable y eje Z para la medición automática de espesores de recubrimiento y para el análisis de materiales
Ámbitos de aplicación típicos
Análisis de materiales de recubrimientos y aleaciones (también recubrimientos delgados y bajas concentraciones)
Control de entrada de mercancías, monitorización de la fabricación
Investigación y desarrollo
Industria electrónica, clavijas y contactos
Industria del oro, sector joyero y relojero
Medición de recubrimientos finos de Au y Pd de solo unos pocos nanómetros en la fabricación de placas de circuitos impresos
Análisis de trazas
Cálculo de plomo (Pb) con aplicaciones de «alta fiabilidad»
Análisis de recubrimientos de agregados duros