Espectrómetro de fluorescencia de rayos X FISCHERSCOPE® XAN®

de laboratoriode medición

• Espectrómetros de fluorescencia de rayos X para análisis de metales y metales preciosos, medición de espesores de recubrimiento y detección de RoHS según DIN ISO 3497 y ASTM B 568 • Detectores de semiconductores premium (PIN y SDD) Garantiza una excelente precisión de detección y alta resolución • XAN & nbsp; 250 y 252: para medir elementos ligeros como aluminio, silicio o azufre & nbsp; • Colimador: fijo o 4x cambiable, el punto de medición más pequeño aprox. 0.3 mm • Filtro primario: fijo o 6x cambiable • Soporte de muestra fijo o una etapa XY manual • Cámara de video para la fácil ubicación del mejor punto de medición • Altura de muestra de hasta 17 cm & nbsp; Aplicaciones • Análisis no destructivo de aleaciones dentales, prueba de plata • Recubrimientos multicapa • Análisis de recubrimientos funcionales de al menos 10 nm de espesor en la industria electrónica y de semiconductores • Análisis de trazas en la protección del consumidor, p. ej. pruebas de la presencia de plomo en los juguetes • Determinaciones de aleación de metal de acuerdo con los requisitos de precisión más altos en la industria de la joyería y en las refinerías