Espectrómetro de fluorescencia de rayos X FISCHERSCOPE® XDV®-µ LD

automáticode mediciónde calidad superior

El FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD es el instrumento XRF líder del sector para aplicaciones de conectores y electrónica. La exclusiva distancia de medición de 12 mm permite medir piezas de prueba de formas complejas, como placas de circuito impreso ensambladas con una altura de 140 mm. Realiza los puntos de medición más pequeños con una excelente estabilidad y alta intensidad. Un detector de deriva de silicio de gran superficie, el capilar de alto rendimiento de larga distancia y el procesador digital de impulsos DPP+ integrado de serie permiten realizar mediciones precisas y repetibles procesando un alto número de cuentas y tiempos de medición cortos. Características • La mayor distancia de medición posible en su clase con 12 mm • Alturas de muestra de hasta 14 cm • Tubo Ultra microfocus con ánodo de tungsteno para un rendimiento mayor en los puntos más pequeños con µ-XRF; ánodo de molibdeno opcional • 4x filtro intercambiable • Detector de deriva de silicio (SDD) extremadamente potente con un área de 50 mm² para la máxima precisión en películas finas • Óptica policapilar de fabricación propia para puntos de medición más pequeños 60 μm FWHM, en tiempos de medición cortos con alta intensidad • Procesador digital de impulsos DPP+ para lograr procesar un mayor número de cuentas, reduciendo los tiempos de medida y mejorando la repetibilidad de los resultados de las medidas