• Medición y cálculo de parámetros de material según DIN EN ISO 14577 y ASTM E 2546
• Determinación de numerosas propiedades plásticas y elásticas como dureza Vickers, módulo de indentación y deformación
• Modo de medición dinámica (análisis mecánico dinámico)
• Adecuado para probar materiales sólidos y recubrimientos en el rango de nanómetros, rango de fuerza de prueba 0.005 - 500 mN & nbsp;
• Diseño modular permite una fácil adaptación a sus necesidades
• Punto cero determinado en menos de un minuto, lo que permite mediciones rápidas
• La etapa XY programable con una precisión de posicionamiento de 0.5 µm hace que la medición en áreas pequeñas como cables de enlace posible
• Se pueden medir muestras de hasta 13 cm de altura
• Microscopio científico de alta calidad
• Térmicamente estable: mide a temperaturas constantes durante varias horas
• Potente software WIN-HCU para operación y evaluación intuitivas & nbsp;
• Indentadores: Vickers, Berkovich o bola de carburo, así como indentadores especiales a pedido
• Mediciones en áreas de prueba extremadamente pequeñas, por ejemplo almohadillas de unión en la industria de semiconductores
• Análisis de superficies implantadas con iones
• Prueba de nano capas con sensores
• Mediciones en materiales biológicos
• Análisis dinámico-mecánico de muestras pequeñas
• Medición de la dureza y elasticidad de PVD, recubrimientos CVD como DLC (carbono tipo diamante), así como capas químicas de níquel
• Mediciones automatizadas en múltiples muestras
• Determinación de las propiedades mecánicas de los componentes estructurales en materialografía