Espectrómetro de fluorescencia de rayos X FISCHERSCOPE® XDLM®-PCB
de mediciónde circuitos impresosde inspección

Espectrómetro de fluorescencia de rayos X - FISCHERSCOPE® XDLM®-PCB - HELMUT FISCHER SRL - de medición / de circuitos impresos / de inspección
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Características

Tipo
de fluorescencia de rayos X
Sector
de medición, de inspección, de circuitos impresos

Descripción

El FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB también está equipado con un tubo contador proporcional. Sin embargo, este instrumento XRF tiene una variedad de colimadores y filtros para que pueda crear las condiciones de medición óptimas para su tarea. En la configuración básica, dispone de una etapa de muestreo extraíble, que simplifica el posicionamiento de la placa de circuito impreso. A petición, también está disponible una platina XY programable para mediciones automatizadas. • Tubo de microenfoque de tungsteno para aplicaciones estándar • Apertura cambiable 4x opcional para condiciones de medición optimizadas • Filtro cambiable 3x opcional para mejores condiciones de excitación para tareas más complejas • Punto de medición más pequeño Ø aprox. 0. 15 mm • Detector de tubo de contador proporcional para analizar elementos desde el potasio (19) hasta el uranio (92) • Etapa de medición extraíble manualmente o programable para placas de circuitos impresos de hasta 610 x 610 mm • Altura máxima de la muestra: 5 mm • Patentado por Fischer: el método DCM para un ajuste sencillo y rápido de la distancia de medición • Inspección de aceptación individual como instrumento totalmente protegido según la ley alemana de protección contra las radiaciones

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