Espectrómetro de fluorescencia de rayos X FISCHERSCOPE® XDAL®-PCB

de mediciónde circuitos impresosde calidad superior

A diferencia de la XULM-PCB y la XDLM-PCB, la FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB está equipada con un detector de deriva de silicio (SDD) altamente sensible, diferentes aperturas y filtros. Esto crea unas condiciones de medición óptimas también para las pruebas de los revestimientos ENIG y ENEPIG. En su configuración básica, el instrumento cuenta con una mesa de muestreo desplegable que simplifica el posicionamiento de las placas de circuito impreso. A petición, puede equiparse con una extensión de la mesa de muestras para placas de circuito impreso de gran tamaño. • Tubo de microenfoque de tungsteno o cromo • Apertura 4x cambiable para condiciones de medición optimizadas • Filtro 3x cambiable para condiciones de excitación óptimas para tareas más complejas • Punto de medición más pequeño Ø aprox. 0. 15 mm • Detector de deriva de silicio (SDD) para el análisis de elementos desde el aluminio (13) hasta el uranio (92) • Patentado por Fischer: el método DCM para un ajuste sencillo y rápido de la distancia de medición • Estadio extraíble manualmente para placas de circuitos impresos de hasta 610 x 610 mm (24" x 24") • Altura máxima de la muestra 10 mm • Inspección de aceptación individual como instrumento totalmente protegido según la ley alemana de protección contra la radiación