Espectrómetro cuadripolar EQS

de masas de iones secundariaspara análisisde alta sensibilidad

Sistema de análisis de iones secundarios positivos y negativos de muestras sólidas Hiden Analytical suministra soluciones de espectrometría de masas de primera clase y herramientas innovadoras para el análisis de iones, incluido el probado y fiable Hiden EQS. Este espectrómetro de masas de iones secundarios (SIMS) de cuadrupolo electrostático de alta transmisión es uno de nuestros sistemas de detección más populares para el análisis de superficies a nanoescala de películas finas a escala de investigación. El analizador EQS SIMS es un analizador complementario ideal para los sistemas XPS y de microscopía FIB de haz de iones focalizado. FIB-SIMS para el análisis de materiales a escala nanométrica Investigación de baterías Materiales nucleares Ciencia de superficies UHV El Hiden EQS es un detector SIMS cuadrupolar electrostático único, especializado en el análisis espectral de masas de iones secundarios positivos (+ve) y negativos (-ve) de muestras sólidas. Con su analizador de energía iónica de sector electrostático de 45° integrado, el Hiden EQS puede analizar simultáneamente la energía iónica con una resolución de 0,2 electronvoltios (eV). Esto lo convierte en una de las herramientas más versátiles para el análisis de iones en una serie de aplicaciones de espectrometría de masas, entre las que se incluyen: Ampliación del rango de sensibilidad de XPS en un factor de más de 1000 SIMS dinámico y estático Espectrometría de masas con haz de iones focalizado (FIB) Espectrometría de masas neutra secundaria (SNMS) Perfiles de profundidad de pulverización catódica Análisis de masa/energía de iones pulverizados y neutros El Hiden EQS, un popular accesorio para sistemas de posventa, ideal como complemento para sistemas XPS y sistemas de microscopía FIB de haz de iones focalizado, por ejemplo, ofrece alta sensibilidad y bombeo diferencial opcional para satisfacer los requisitos de obtención de imágenes, perfiles de profundidad y espectros de masas de los usuarios en una amplia gama de aplicaciones.