Espectrómetro de masas de iones secundarias FIB-SIMS

para análisisde alta sensibilidad

Añada la capacidad SIMS de alto rendimiento a su sistema FIB existente Hiden Analytical ofrece espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS) de alto rendimiento para los sistemas de haz de iones focalizados (FIB) existentes, proporcionando una especificidad de superficie excepcional y un rango dinámico naturalmente alto para el análisis avanzado de materiales a nanoescala. Nuestros sistemas FIB-SIMS están preparados para mejorar sus operaciones, desde las tareas de detección rutinarias hasta la preparación de muestras complejas. El análisis de materiales a nanoescala se refiere a un dominio creciente de instrumentos centrados en la detección de elementos traza y ultratraza hasta el rango de partes por millón (ppm). Esto es fundamental en el mapeo elemental tridimensional (3D) de alta sensibilidad y en la elaboración de perfiles de profundidad; ambos métodos clave de análisis de materiales para aplicaciones de identificación de materiales analíticos y preparativos. La espectrometría de masas de iones secundarios con haz de iones focalizado (FIB-SIMS) es una de las técnicas de identificación de materiales más potentes en el análisis de materiales a nanoescala de alta sensibilidad. Combina la excepcional sensibilidad superficial de SIMS con un haz de iones primario focalizado, sentando las bases para el análisis composicional cualitativo de las nanocapas superiores de los materiales de interés. FIB-SIMS puede proporcionar datos elementales críticos basados en la detección de isótopos e iones (atómicos y moleculares), con una amplia gama de áreas de aplicación adecuadas. Mapeo de superficies elementales a escala nanométrica Perfiles de profundidad 3D Análisis de materiales Excelente sensibilidad y rango dinámico Interfaz de software personalizada El modo "Feature MS" permite obtener datos espectrales de masas de un área específica de interés, como un contaminante, un límite de grano, etc Soluciones de montaje personalizadas disponibles para cualquier sistema FIB