Espectrómetro de fotoelectrones emitidos por rayos X XPS

para análisis

Una opción de sistema de ciencia de superficies UHV multitécnico que proporciona XPS, UPS, AES, SAM, ISS y LEIS instalado en la estación de trabajo Hiden SIMS La espectroscopia de fotoelectrones de rayos X es una técnica muy complementaria que proporciona información sobre la composición atómica y el estado químico de los enlaces. La XPS puede utilizarse para cuantificar altas concentraciones y, por tanto, es ideal para proporcionar puntos de calibración para la técnica SIMS, mucho más sensible. Ciencia de superficies UHV La cámara de dos partes de la estación de trabajo Hiden SIMS está diseñada específicamente para montar la actualización XPS utilizando componentes de última generación de SPECS® y, junto con soportes de muestras basculantes, permite utilizar las técnicas XPS y SIMS en la misma plataforma UHV sin compromiso. La serie de analizadores PHOIBOS 150 HV es el instrumento de elección para el análisis XPS de alta energía (HAXPES). Las fuentes de alimentación de alto voltaje y el diseño altamente estable del analizador permiten la fotoemisión hasta una energía cinética de 7 keV, cubriendo la mayoría de las fuentes de luz de rayos X e instalaciones de sincrotrón existentes. Este analizador puede funcionar en modo de alto voltaje y además en todos los modos de análisis relevantes, como (M)XPS, UPS, así como AES, ISS y LEISS. Su diseño y el hardware complementario modular hacen de este analizador el analizador PES más versátil del mercado. Puede actualizarse fácilmente con todos los sistemas de detección SPECS disponibles. El detector 1D-DLD integrado es el sistema de detección de mejor rendimiento disponible. La detección directa de señales de electrones permite obtener recuentos cuantitativos por segundo (cps) y la potente electrónica permite obtener mediciones instantáneas ultrarrápidas del espectro de energía