Sistema de medición de polarización PEM 100 series

ópticopara aplicaciones industriales

Los sistemas PEM duales proporcionan la capacidad de realizar mediciones de análisis de polarización en tiempo real. Cuando sólo se utiliza un PEM, deben realizarse dos mediciones con la muestra girada 45° después de la primera medición. Sin embargo, las mediciones pueden realizarse en tiempo real utilizando dos PEM montados a 45° uno respecto del otro. Hinds Instruments dispone de cuatro opciones de PEM dobles estándar para aplicaciones que requieren diferentes aperturas útiles y mediciones en diferentes regiones espectrales. El sistema I/FS50-60 (y I/FS50-55, I/FS47-50) utiliza el PEM de la serie I. El PEM de la serie l tiene una óptica de forma rectangular que, en esencia, limita la apertura útil del PEM. Estos sistemas pequeños son prácticos cuando la fuente de luz tiene un diámetro de haz pequeño. Por lo tanto, si la aplicación del PEM doble implica una fuente de luz que consiste en un solo láser, ésta es una opción viable. Los sistemas II/FS20-23 y II/FS42-47 también emplean sílice fundida de alta calidad como material óptico y tienen un rango de transmisión de 170nm a 2,6µm. Ambos modelos son completamente funcionales en las regiones espectrales de la luz visible y del infrarrojo cercano. Sin embargo, el sistema II/FS20-23 tiene la ventaja de una mayor apertura. Esto es especialmente útil si la fuente de luz tiene un gran diámetro de haz o si hay que acomodar más de una fuente de luz. Este PEM dual se utiliza normalmente en un sistema polarímetro de Stokes para medir la orientación de la componente lineal de la luz emitida por un haz de átomos de deuterio inyectados en el plasma de un tokamak. El II/42-47 también se utiliza en mediciones de polarimetría de Stokes y proporciona una configuración de cabezal óptico más compacta.