Sistema de medición de factor de anisotropía 2-MGEM
ópticode laboratoriomicroscopio

Sistema de medición de factor de anisotropía - 2-MGEM - Hinds Instruments - óptico / de laboratorio / microscopio
Sistema de medición de factor de anisotropía - 2-MGEM - Hinds Instruments - óptico / de laboratorio / microscopio
Sistema de medición de factor de anisotropía - 2-MGEM - Hinds Instruments - óptico / de laboratorio / microscopio - imagen - 2
Añadir a mis favoritos
Añadir al comparador
 

Características

Magnitud física
de factor de anisotropía
Tecnología
óptico
Aplicaciones
de laboratorio
Otras características
microscopio

Descripción

Desarrollado en cooperación con el Laboratorio Nacional de Oak Ridge, un nuevo instrumento está avanzando en la comprensión de los combustibles nucleares de 4ª generación y las características de polarización reflejadas. El Sistema de Medición del Factor de Anisotropía Óptica 2-MGEM es un microscopio de reflexión de polarización de incidencia normal diseñado para medir la matriz Mueller de la muestra y es un ganador del premio R&D 100 de 2008. Este sistema está diseñado específicamente para evaluar el Factor de Anisotropía Óptica (OPTAF) de las secciones transversales de las capas de pirocarburos del combustible nuclear TRISO. Otras posibles caracterizaciones de materiales incluyen la medición de los elementos de la matriz de Mueller de otros cristales, compuestos de carbono y recubrimientos de películas finas (por ejemplo, películas de deposición superficial) en incidencia normal. El 2-MGEM también puede medir el retardo (d), la diatenuación circular (CD) y el factor de polarización (ß). Estos parámetros no pueden medirse con técnicas más antiguas, ya que éstas no incorporan un elemento óptico de compensación. Póngase en contacto con nosotros para obtener más información sobre el sistema 2-MGEM y para ver cómo Hinds Instruments trabaja con nuestros clientes para resolver problemas de metrología complejos. Medición de TRISO: La comprensión de la orientación preferencial del grafito en las capas de revestimiento de pirogeno interno (IPyC) y externo (OPyC) de TRISO puede identificar problemas de orientación de la formación que conduzcan a un fallo prematuro de la contención.

---

Catálogos

No hay ningún catálogo disponible para este producto.

Ver todos los catálogos de Hinds Instruments
* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.