Máquina de prueba multi-parámetros
de semiconductores

Máquina de prueba multi-parámetros - HIOKI E.E. CORPORATION - de semiconductores
Máquina de prueba multi-parámetros - HIOKI E.E. CORPORATION - de semiconductores
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Características

Tipo de prueba
multi-parámetros
Tipo de producto
de semiconductores

Descripción

Tipo X-Y: Características de producto Estos de alta velocidad, de alta precisión, los probadores poblados alto-confiabilidad de la punta de prueba del vuelo del tablero son ideales para alto-mezclan la producción del bajo volumen. La función de cuatro cables de la medida permite la detección de plomos levantados de los ICs así como la cogida de los empalmes secos. Las capacidades extienden a la prueba in-circuit activa de FETs, de relais, y de 3 reguladores de voltaje terminales--los usos mirados hasta ahora como prueba desafiadora publican para el equipo convencional. Las características opcionales incluso permiten conducir la medida, la exploración del límite, y la cuenta de la frecuencia del oscilador cristalino, el etc. funcionales simples. ¡Una plataforma X-Y de las TIC diseñada mientras que tiene expansibilidad de la flexibilidad y del futuro presente!

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.