Comprobador de baja resistencia FA122 series

para tarjetas electrónicas

PROBADOR DE CIRCUITOS FA1220 Se incrustan en el equipo existente para realizar pruebas funcionales de los componentes individuales de la placa de circuitos electrónicos o mientras están montados en los PCBs El equipo de inspección de PCB y sustratos de Hioki aprovecha nuestra competencia principal en la prueba de componentes de alta precisión. El FA1220 es un componente de medición de PCB embebido que proporciona amplias capacidades de prueba de funcionamiento para complementar el equipo de prueba automática existente. Características principales - La funcionalidad se ha consolidado en una única torre de escritorio que se puede integrar fácilmente en el equipo existente -Exhaustivas pruebas de funcionamiento -Condensador electrolítico y detección de inserción inversa de IC -Función de macro-prueba para aumentar la eficiencia de la prueba -Medición de baja resistencia de cuatro terminales para una medición estable de baja resistencia FA1220 Descripción general de las especificaciones Número de puntos de prueba - Máximo. 1024 pines (Puede ser añadido en bloques de 128 pines.) Estándar : 0 pines (Las placas de escáner se venden como opciones.) Número de pasos de prueba - Round-robin corto/abierto de datos : 1024 pines Datos de los componentes : Max. 10000 pasos Macro datos : 1024 pines/1024 pasos (sin importar el número de pines) Datos del IC : 500 pasos (máx. 1024 pines/paso) Datos de carga : 40 juegos Datos de contacto de los pines: 1024 alfileres Datos del grupo : 255 grupos