Analizador de espesor de revestimiento FT160 Series

de aleaciónbenchtopFluorescencia de rayos X

Analizadores XRF puntuales (Microspot) de grosor de recubrimientos y de materiales para pruebas rápidas de control de la calidad y validación, lo que facilita obtener los resultados correctos en segundos. El análisis de grosor de recubrimientos y de materiales basado en la fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica analítica ampliamente aceptada y probada en la industria, que ofrece un análisis fácil de usar, rápido y no destructivo que requiere poca o ninguna preparación de muestras, capaz de analizar sólidos o líquidos en una amplia gama de elementos de 13Al a 92U en la tabla periódica. SDD de alta resolución Gama de elementos: Al-U Diseño de la cámara: cerrado XY stage options : motorized, wafer Tamaño máximo de muestra: 600 x 600 x 20 mm Filtros: 1 o 3 Polycapillary < 20 µm Controlador XRF