Análisis inteligente de revestimientos para una medición más rápida y conectada
Los analizadores XRF de sobremesa de la serie FT200 se han diseñado para reducir significativamente el tiempo necesario para realizar una medición. Conscientes de que la mayor parte del tiempo se dedica a la preparación de la muestra y la selección de la receta de medición, los ingenieros de Hitachi han creado una serie de analizadores innovadores que se "preparan" solos, lo que permite analizar muchas más piezas en un solo turno.
Los analizadores FT230 y FT210 se caracterizan por su automatización y su innovador software. Los módulos de reconocimiento inteligente como Find My Part™ significan que todo lo que el operario tiene que hacer es cargar la muestra, confirmar la pieza y el instrumento se encarga del resto. Encontrará las ubicaciones de medición correctas en su pieza -incluso en sustratos grandes-, seleccionará el programa de análisis correcto y enviará los resultados a su sistema de calidad. Se reducen el tiempo y los errores humanos, y se obtienen más análisis en menos tiempo, lo que hace que la inspección al 100% sea mucho más realista en un entorno de producción ajetreado.
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