Analizador de metal X-Strata920

para control de calidadpara la electrónicade espesor de revestimiento

Analizadores XRF puntuales (Microspot) de grosor de recubrimientos y de materiales para pruebas rápidas de control de la calidad y validación, lo que facilita obtener los resultados correctos en segundos. El análisis de grosor de recubrimientos y de materiales basado en la fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica analítica ampliamente aceptada y probada en la industria, que ofrece un análisis fácil de usar, rápido y no destructivo que requiere poca o ninguna preparación de muestras, capaz de analizar sólidos o líquidos en una amplia gama de elementos de 13Al a 92U en la tabla periódica. Sistema de contador proporcional Gama de elementos: Ti–U Diseño de la cámara: ranurada Opciones de mesa XY: base fija, foso profundo, motorizada Tamaño máximo de muestra: 270 x 500 x 150 mm Cantidad máxima de colimadores: 6 Filtros: 3 Tamaño mínimo de colimador: 0,01 x 0,25 mm (0,5 x 10 milésimas) Software SmartLink