Microscopio electrónico de barrido FlexSEM II

multiusospara análisispara la inspección de inclusiones no metálicas

FlexSEM II es un SEM de sobremesa/compacto para tareas de captura de imágenes que van más allá del rendimiento de los SEM de sobremesa convencionales. Es el sistema ideal para cualquiera que no quiera invertir en un SEM clásico, pero que tampoco quiera renunciar al rendimiento de la captura de imágenes ni a la variabilidad del detector. Características del producto: - 4nm @ 20kV Óptica de electrones de alta resolución con energías de haz entre 300eV y 20keV - Alto vacío y bajo vacío ajustable hasta 100Pa - SE y detector de retrodispersión de 4+1 segmentos de serie, SE de bajo vacío opcional (UVD); también puede utilizarse para imágenes de catodoluminiscencia y STEM, cámara óptica de navegación en color y chamberscope - platina de 5 ejes para muestras de hasta un máx. de 153 mm de diámetro y 40 mm de altura. 153 mm de diámetro y 40 mm de altura