Microscopio SEM TM4000PlusIII

de medidaspara análisispor topografía

Diseñado como una extensión lógica de la microscopía óptica estereoscópica, el TM4000 III es un dispositivo básico para la microscopía electrónica de barrido. Permite obtener imágenes de muestras en el menor tiempo posible con buena resolución, profundidad de campo y contraste entre distintos materiales. Todo ello sin necesidad de una laboriosa preparación (sin recubrimiento). Si es necesario, también puede determinar la composición química y la distribución de elementos. La sencilla navegación en la platina motorizada X,Y de la muestra se realiza mediante una vista general fotográfica en color generada automáticamente y ampliable. Esto puede complementarse localmente con instantáneas fotográficas SEM. Características del producto: - EDX con tamaño de sensor de 30 mm2 o 60 mm2 totalmente integrable, conmutación inmediata entre observación y análisis de elementos - 4 tensiones de aceleración 5 | 10 | 15 | 20kV con 5 modos de corriente de sonda cada uno - Cámara óptica de navegación en color - 3 etapas de presión de cámara - detector de electrones retrodispersados de 4 segmentos - Lectura de la corriente de la sonda y funcionalidad IFT