Sistema de preparación de muestras automático ArBlade 5000

para SEMfresado con haz de ionesde refrigeración

El sistema de haz de iones amplio más avanzado para producir muestras de sección transversal o de fresado plano de excepcional calidad para la microscopía electrónica. El ArBlade 5000 está equipado con una pistola de iones Ar de fresado rápido con una velocidad de fresado dos veces mayor para un rendimiento de vanguardia, lo que reduce drásticamente el tiempo de procesamiento para la preparación de secciones transversales. *el 1Si sobresale 100 um del borde de la máscara. Comparación del fresado de secciones transversales (Muestra: plomo para portaminas, Tiempo de fresado: 1,5 horas) Anchos de sección transversal de hasta 8 mm Para los requisitos de fresado de gran superficie, como las aplicaciones de dispositivos electrónicos, se ha desarrollado un revolucionario diseño de soporte de fresado de sección transversal para la fabricación de superficies más amplias. Ejemplo de fresado de secciones transversales de gran superficie (Muestra: componente electrónico, tiempo de fresado: 5 horas) Modelo híbrido: Configuración de fresado doble disponible El nuevo sistema de fresado iónico está equipado con modos de fresado de sección transversal y de fresado plano para las necesidades de aplicación más complejas. Equipado con múltiples soportes, el sistema ArBlade 5000 se adapta a una amplia gama de aplicaciones. Fresado de sección transversal Se utiliza para producir secciones transversales más amplias y sin distorsiones sin aplicar tensión mecánica a la muestra Fresado plano Se utiliza para eliminar los artefactos de la capa superficial y el pulido final tras las técnicas tradicionales de pulido mecánico. Las versiones criogénicas del ArBlade 5000 proporcionan una refrigeración activa de la etapa de fresado de la sección transversal durante el procesamiento de la muestra. Un dewar de nitrógeno líquido integrado conectado a la etapa de sección transversal elimina eficazmente el calor inducido durante el fresado por haz de iones de la máscara de protección y la muestra.