Microscopio electrónico de transmisión y barrido SU9000 II

para análisispara la investigaciónBF-STEM

El SU9000 II es una combinación de SEM de imagen superficial y microscopio de transmisión por barrido con resolución de estructura intrínseca (STEM) optimizado para una resolución extrema. Esto es posible gracias a la exclusiva óptica de electrones del SU9000 II, que combina un emisor de campo frío con emisión casi monocromática con una lente de objetivo "inlens". La muestra se coloca en un soporte de "entrada lateral" altamente estable, prácticamente dentro de la lente objetivo de dos etapas. De forma similar al SU8600, se dispone de un sistema detector de dos etapas con filtro de energía, ampliable con un detector de retrodispersión móvil, para la obtención de imágenes SEM. En el modo de transmisión, la señal TE puede detectarse simultáneamente con las imágenes SEM de forma selectiva según los ángulos de dispersión (campo claro, campo oscuro variable) con una resolución de rejilla inferior a 3 Å. Puede montarse cerca de la muestra un detector EDX grande y sin ventana con un ángulo sólido de hasta 0,7 sr para realizar análisis elementales de alta resolución tanto en modo SEM como STEM. Características del producto: - Combinación SEM-STEM con señal SEM filtrada por ExB y detección de señal de transmisión dependiente del ángulo de dispersión - El emisor de campo frío combinado con la óptica de electrones en la lente garantizan una resolución SE de 0,4 nm y una resolución TE de 0,34 nm a una tensión de aceleración de 30 k - Excelente análisis de elementos ligeros, gracias al soporte óptimo de un detector EDX sin ventana por la lente de inmersión magnética. O el uso de un espectrómetro de pérdida de energía