Microscopio electrónico de transmisión y barrido SU9000II

para análisispara la investigaciónBF-STEM

La fuente de emisión de campo frío es ideal para obtener imágenes de alta resolución con un tamaño de fuente y una dispersión de energía reducidos. La innovadora tecnología del cañón CFE aporta el FE-SEM definitivo con un brillo y una estabilidad del haz superiores, lo que permite obtener imágenes de alta resolución y análisis elementales de alta calidad. Para permitir una adquisición de datos estable a los niveles de rendimiento más altos del instrumento, el SU9000II ofrece nuevas funciones que permiten realizar ajustes automatizados del sistema óptico, así como el nuevo paquete de software EM Flow Creator como opción para realizar la adquisición de datos automatizada, en particular la recopilación de datos secuenciales. Además, el exclusivo diseño del sistema óptico cuenta con una capacidad de EELS para el análisis avanzado de materiales. El SU9000 es el nuevo SEM premium de HITACHI. Presenta una óptica de electrones única, con la muestra colocada dentro de un hueco entre las partes superior e inferior de la pieza polar de la lente del objetivo. Este concepto denominado "true in-lens", combinado con la nueva generación de tecnología de emisión de campo frío de HITACHI, garantiza la máxima resolución del sistema (resolución SE de 0,4 nm a 30 kV, 1,2 nm a 1 kV sin necesidad de tecnología de desaceleración del haz [0,8 nm con desaceleración del haz]) y estabilidad. Para que este poder de resolución sea utilizable en aplicaciones prácticas en su laboratorio, el SU9000 utiliza una platina de muestra de entrada lateral ultraestable similar a los sistemas TEM de gama alta e incorpora una amortiguación de vibraciones optimizada y una cabina cerrada para proteger la óptica electrónica del ruido ambiental.