Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo SU7000
para análisisBF-STEMDF-STEM

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo - SU7000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - para análisis / BF-STEM / DF-STEM
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo - SU7000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - para análisis / BF-STEM / DF-STEM
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Características

Tipo
electrónico de barrido de emisión de campo
Aplicaciones técnicas
para análisis
Técnica de observación
BF-STEM, DF-STEM, in-situ
Configuración
de pie
Fuente de electrones
de emisión de campo Schottky
Tipo de detector
de electrones secundarios, de electronos retrodispersados
Otras características
para nanotecnología, para adquisición simultánea, de resolución ultra alta
Aumento

Mín.: 20 unit

Máx.: 2.000.000 unit

Resolución espacial

0,8 nm, 0,9 nm

Descripción

El SU7000 es ideal para muestras grandes o pesadas y para integrar una amplia gama de accesorios. Estos accesorios incluyen detectores analíticos o accesorios de platina para la manipulación de muestras in situ (estiramiento [tracción] / compresión, calentamiento/enfriamiento, sondeo, secciones en serie con micrótomo, etc.). Equipado, al igual que el SU8700, con la óptica electrónica universal de alta resolución y sin campos de Hitachi (compuesta por un emisor Schottky y un amplificador de haz), el SU7000 también dispone de una gran cámara de muestras analíticas con una platina de muestras totalmente retráctil. La platina es adecuada para muestras de hasta 200 mm de diámetro, 80 mm de altura y 2 kg de masa. Dispone de varios puntos de acceso a la cámara de muestras y a la puerta de la cámara. Una cámara en color integrada facilita la navegación por la platina. Características del producto: - Emisor de campo Hitachi Schottky duradero y estable con corriente de sonda de hasta 200nA - Brillante rendimiento de imagen - sin necesidad de un campo opuesto sobre la muestra - desde 100 V (opción de 10 V) hasta 30 kV de tensión de aceleración - Amplia cámara de muestras analíticas con numerosos puertos de acceso para accesorios y una platina de muestras eucéntrica para muestras de hasta 80 mm de altura y 200 mm de diámetro - La distancia de trabajo analítica EDX de 6 mm permite realizar trabajos de alta resolución y analíticos de forma simultánea o con cambios rápidos

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Ferias

Este distribuidor estará presente en las siguientes ferias

Control 2025
Control 2025

6-09 may. 2025 Stuttgart (Alemania)

  • Más información
    K-Messe	2025
    K-Messe 2025

    8-15 oct. 2025 Düsseldorf (Alemania)

  • Más información
    * Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.