Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo SU7000

para análisisBF-STEMDF-STEM

El FE-SEM moderno no sólo requiere un alto rendimiento, sino también multitud de funcionalidades, como la observación de áreas amplias, el análisis in situ, la presión variable, la obtención de imágenes de alta resolución con voltajes de aceleración bajos y la recogida simultánea de señales múltiples. El SU7000 está diseñado para abordar estos aspectos y otros más, proporcionando información mejorada para necesidades diversificadas en el campo de la microscopía electrónica. ¡Experimente el nanomundo con el SU7000! Capacidad versátil de captura de imágenes El SU7000 destaca por la rápida adquisición de múltiples señales para satisfacer las necesidades de los microscopios electrónicos de barrido, desde la obtención de imágenes de un amplio campo de visión hasta la visualización de estructuras subnanométricas y todo lo demás. La incorporación de sistemas ópticos y de detección de electrones de nuevo diseño permite la adquisición simultánea y eficaz de múltiples señales de electrones secundarios y de electrones retrodispersados. Imágenes multicanal El número de detectores montados en el SEM es cada vez mayor, junto con la necesidad de mostrar toda la información recopilada de forma eficaz. El SU7000 es capaz de procesar, visualizar y guardar hasta 6 señales simultáneamente para maximizar la adquisición de información. Amplia variedad de técnicas de observación La cámara de muestras y el sistema de vacío están optimizados para: - Muestras de gran tamaño - Manipulación de muestras en varios ejes - Condiciones de presión variables - Condiciones criogénicas - Calentamiento y enfriamiento para la observación in situ