Microscopio STEM HF5000

para investigación en materialespara analizar materialesde metrología

El HF5000 es un S/TEM con corrección de Cs personalizable para experimentos in situ. La característica especial la proporciona el detector Everhart Thornley SE, que toma imágenes de la superficie de la muestra a 60-200kV, igual que en un SEM. Esto resulta especialmente ventajoso para los experimentos in situ de gas y calentamiento, en los que el gas reacciona con la superficie de la muestra. Gracias al corrector Cs, la superficie puede visualizarse con resolución atómica. El cambio rutinario y rápido entre TEM y STEM facilita el trabajo diario con un corrector de Cs totalmente automatizado, incluso para los principiantes en el campo del TEM. Características del producto: - Fuente de electrones de emisión de campo frío con emisión de banda energéticamente estrecha, ideal para imágenes de alta resolución y EELS - Corrector de Cs Hitachi STEM, totalmente automatizado - Detector de electrones secundarios para obtener información superpuesta sobre la superficie de la muestra en correlación con la señal de electrones transmitidos - Posibilidad de realizar experimentos ETEM, por ejemplo, en una atmósfera de gas abierta