Microscopio electrónico de barrido SU series

para medición de la rugosidad superficialpara análisispara la investigación

Rendimiento y potencia en una plataforma flexible Los microscopios electrónicos de barrido SU3800/SU3900 de Hitachi High-Tech ofrecen operatividad y capacidad de ampliación. El operador puede automatizar muchas operaciones y utilizar eficientemente su alto rendimiento. El SU3900 está equipado con una gran cámara de muestras polivalente que permite la observación de muestras de gran tamaño. 1.La cámara de muestras sustancialmente más grande admite muestras pesadas y de gran tamaño ■ Etapa robusta para flexibilidad en el tamaño, la forma y el peso de las muestras - La secuencia de intercambio de muestras evita posibles daños al sistema o a la muestra. - Intercambie las muestras sin ventilar la cámara de muestras, lo que mejora el rendimiento. - Aumente la manipulación de muestras con el modo Stage Free*. - El Chamber Scope mejora la seguridad de los movimientos de la platina*. ■Aumento del área de visualización: SEM MAP amplía los límites de la navegación de muestras - Visualización integrada en la cámara - Navegue fácilmente por toda el área observable - Rotación orientada al detector 2.Evolución del mercado-Funciones automáticas mejoradas para operadores de cualquier nivel de habilidad ■Múltiples modos de funcionamiento ■ Funciones automáticas para operadores de cualquier nivel de destreza Algoritmos automáticos mejorados-3X más rápidos (en comparación con el modelo Hitachi S-3700N) Función de enfoque automático mejorada Características de nuestra tecnología patentada de filamento inteligente (IFT): ■Multi Zigzag permite la observación de área amplia a través de múltiples áreas. ■Report Creator genera informes de los datos adquiridos. 3.Soluciones integradas para diversas aplicaciones ■Variedad de accesorios montables en cualquiera de los 20 puertos de la innovadora cámara de muestras SU3900. ■Sistema de integración SEM/EDS*