Microscopio electrónico de barrido SU3800/3900 Family

para medición de la rugosidad superficialpara análisispara la investigación

La familia SU3800/3900 VP-SEM se centra en la productividad. Estas herramientas automatizan las tareas repetitivas para que pueda obtener resultados reproducibles en poco tiempo y con escaso esfuerzo manual. Están disponibles dos cámaras de muestras diferentes con ópticas de emisión de campo de tungsteno o Schottky. Tanto el SU3800 como el SU3900 disponen de software, electrónica y plataforma de detectores comunes. Características del producto: - Detectores Hitachi de alta eficiencia: -- Detector de electrones secundarios para alto vacío -- Detector de electrones retrodispersados semiconductor de 5 segmentos para alto y bajo vacío, selección de diferentes modos de señal como contraste de material, topografía de superficie, 3D -- Detector multifunción opcional "UVD": Electrones secundarios en bajo vacío, cátodo señal de luminiscencia, transmisión (STEM, en combinación con un portamuestras especial) - Libre de campo, moderna óptica de electrones opcionalmente con emisor de campo Schottky o con cátodos de horquilla de tungsteno robustos, económicos y, gracias al control inteligente, de larga duración - Manejo sencillo incluso de muestras no conductoras de la electricidad gracias al eficaz modo de funcionamiento de bajo vacío integrado, al que se puede cambiar con un clic del ratón en caso necesario - Para una visión general perfecta: Las imágenes de navegación en color de las placas de muestra cubren toda el área de muestra observable por SEM - Funcionamiento despreocupado: las colisiones entre la platina y los componentes del SEM quedan prácticamente eliminadas gracias a la limitación de recorrido de rango dinámico aplicada automáticamente