Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo SU8600

para análisis3Dde emisión de campo frío

El SU8600 es el sucesor de la acreditada familia de SEM de emisión de campo Regulus y cumple los requisitos más exigentes para aplicaciones orientadas a la obtención de imágenes. El emisor de campo frío con su emisión casi monocromática, combinado con una lente de inmersión magnética, elimina la necesidad de aumentar el haz. De este modo, proporciona una resolución superior incluso a bajas energías del haz, junto con una separación precisa y estable de la señal por ángulo y energía del haz. El SU8600 CFE-SEM también ofrece el máximo rendimiento en trabajos analíticos con detectores específicos. Por ejemplo, puede añadir detectores EDX sin ventana para un análisis óptimo de elementos ligeros. Éstos pueden utilizarse con el SU8600 en toda la gama de energía del haz, hasta 30 keV, y a las distancias de trabajo más cortas, a partir de 4 mm, gracias a la lente de inmersión magnética. También puede combinar el SEM con el detector FlatQuad EDX de Bruker con más de 1sr de ángulo sólido para obtener la máxima eficacia de señal. Se dispone de corrientes de muestra de hasta 20nA. Características del producto: - Emisor de campo Hitachi muy duradero y casi monocromático combinado con lente de inmersión magnética - Amplio sistema de detectores de configuración flexible con filtrado fino de energía que, junto con la visualización de imágenes en directo de 6 canales, permite una evaluación exhaustiva de la muestra - Armoniza bien con los detectores EDX sin ventana - Las funciones fiables y automatizadas se traducen en un SEM fácil de usar y de alto rendimiento. Estas funciones incluyen el ajuste de las condiciones de observación definidas por el usuario, el excelente autoenfoque 2D y el autoestigmador, etc. - La cámara de intercambio de muestras permite una carga rápida y limpia de muestras de hasta 150 mm de diámetro. La platina eucéntrica de 5 ejes tiene un recorrido X,Y de 110mm x 110mm