Espectrómetro de rayos X Element series
EDXpara análisis elementalesde mesa

Espectrómetro de rayos X - Element series - Hitachi High-Tech Europe GmbH - EDX / para análisis elementales / de mesa
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Características

Tipo
de rayos X, EDX
Sector
para análisis elementales
Configuración
de mesa
Tipo de detector
SDD

Descripción

La serie Element son sistemas EDX fabricados por EDAX Instruments. El SDD con ventana de Si3N4 mejora la velocidad de mapeo y los límites de detección. Ventana Si3N4 Ventana Si3N4 para optimizar la transmisión de rayos X de baja energía para el análisis de elementos ligeros. Ventana de detector convencional, se mejora la velocidad de mapeo y el límite de detección.

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