La serie Element son sistemas EDX fabricados por EDAX Instruments. El SDD con ventana de Si3N4 mejora la velocidad de mapeo y los límites de detección.
Ventana Si3N4
Ventana Si3N4 para optimizar la transmisión de rayos X de baja energía para el análisis de elementos ligeros. Ventana de detector convencional, se mejora la velocidad de mapeo y el límite de detección.
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