Espectrómetro Raman Raman AFM and nano-Raman TERS

para la microespectroscopía

La tecnología Raman de HORIBAs se acopla fácilmente a los microscopios de sonda de barrido (SPM). La plataforma permite la microscopía de fuerza atómica (AFM), las técnicas ópticas de campo cercano (SNOM, NSOM), la microscopía de barrido de túneles (STM) y la espectroscopía óptica confocal (Raman y Fluorescencia) en un instrumento versátil, listo para la espectroscopía Raman con punta mejorada (TERS) o mediciones co-localizadas. La excepcional estabilidad a largo plazo y la velocidad de nuestra plataforma Raman-AFM integrada proporcionan resultados fiables tanto para mediciones co-localizadas como para TERS Imaging. Una plataforma única para mediciones simultáneas asegura que las imágenes que obtenga estén realmente correlacionadas.