Sistema de supervisión de temperatura E-LIT

de mediciónpara la industria electrónicade cámara infrarroja

Solución para ensayos electrónicos y de semiconductores - E-LIT Banco de pruebas modular automatizado - Análisis térmico de dispositivos electrónicos y semiconductores - Banco de pruebas modular para mediciones lock-in en línea - Detección fiable de anomalías térmicas en el rango de mK y μK - Localización espacial de defectos en placas de circuito impreso multicapa y módulos multichip - Uso de sistemas termográficos con detectores refrigerados y no refrigerados - Software operativo IRBIS® 3 activo con amplias opciones de análisis en condiciones de laboratorio E-LIT - Lock-In Thermography for electronics es un sistema de solución de pruebas automatizado (como parte de las técnicas END) que permite el análisis de fallos (eléctricos) sin contacto del material semiconductor durante el proceso de fabricación. La termografía Lock-in permite medir la distribución no homogénea de la temperatura, la pérdida local de potencia, las corrientes de fuga, las vías resistivas, las juntas frías, los efectos de enganche y los problemas de soldadura. Esto se consigue utilizando los tiempos de medición más cortos combinados con una cámara termográfica de alto rendimiento y un procedimiento lock-in especializado. La fuente de alimentación para este proceso se sincroniza con un módulo de sincronización y los fallos que producen diferencias de temperatura de mK o incluso μK son detectados con fiabilidad por el sistema de termografía Lock-in. Los defectos más pequeños en componentes electrónicos, como derivaciones puntuales y de línea, problemas de sobrecalentamiento, cortocircuitos internos (óhmicos), defectos de óxido, fallos de transistores y diodos en la superficie de una placa de circuito impreso, en circuitos integrados (CI), módulos LED y celdas de baterías pueden detectarse y visualizarse en posiciones x e y. Además, es posible analizar paquetes de troqueles apilados o módulos multichip en dirección z con sólo cambiar la frecuencia de detección.