Instrumento de medida resistividad V-FullWaver
de polarización inducidade potencial espontáneoeléctrico

Instrumento de medida resistividad - V-FullWaver - Iris Instruments - de polarización inducida / de potencial espontáneo / eléctrico
Instrumento de medida resistividad - V-FullWaver - Iris Instruments - de polarización inducida / de potencial espontáneo / eléctrico
Instrumento de medida resistividad - V-FullWaver - Iris Instruments - de polarización inducida / de potencial espontáneo / eléctrico - imagen - 2
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Características

Mesurando
resistividad, de polarización inducida, de potencial espontáneo
Tecnología
eléctrico
Configuración
portátil
Otras características
continuo, con registrador de datos

Descripción

Los sistemas V-FullWaver se han desarrollado específicamente para realizar mediciones precisas de polarización inducida, resistividad y SP en el dominio del tiempo. Cada sistema es totalmente independiente; incorpora su propia fuente de alimentación, módulo GPS y memoria digital para un registro continuo de hasta 3 meses. El V-FullWaver es un receptor de polarización inducida, resistividad y SP de dos canales. La grabación continua a una velocidad de muestreo de 10 ms proporciona un registro de forma de onda completa. Puede ser sincronizado en la señal GPS PPS, permitiendo un fácil proceso de la señal. Los datos de la memoria pueden descargarse directamente en una simple memoria USB desde todos los Fullwavers. Las series temporales registradas por los I&V FullWavers pueden ser post-procesadas en el software dedicado FullWave Viewer que permite adaptar el procesamiento según la relación señal/ruido, centrarse en las partes estables y precisas de la señal, eliminar los picos de SP y resincronizar los datos si es necesario. Este software permite también un rápido proceso automático de los datos y por lo tanto exportar los datos de resistividad y cargabilidad para calcular un primer modelo 3D en pocos minutos. Los dispositivos FullWaver han sido diseñados para la medición de resistividad, IP y PS en grandes superficies 3D que pueden verse afectadas por una topografía pronunciada. Dependiendo del tamaño del área a investigar, 10 o más dispositivos V-FullWaver pueden ser ubicados aleatoriamente en la superficie de investigación realizando una medición continua.

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Catálogos

FullWavers
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5 Páginas
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