Zócalo de prueba de rodaje DCL-QFP1414-100-P050

QFN

Tipo Latch Lock para o QFP,SOP Productos estándar El zócalo de prueba que permite la medición de señales de transmisión de alta velocidad adoptando el método de contacto que presiona directamente el cable del dispositivo contra la placa. El "tipo Latch Lock", que fija la tapa del zócalo con un pestillo, permite sustituir el dispositivo de forma eficaz, ya que la tapa puede colocarse y retirarse simplemente presionándola desde arriba. Disponemos de una gama de productos estándar que se ajustan a las dimensiones de los dispositivos QFP/SOP y pueden suministrarse en un breve plazo de tiempo. [Aplicación] - Montaje en PCB para producción en masa - Prueba final e inspección en un entorno real (ej. automóvil, robótica, dispositivos eléctricos para movilidad) - Análisis de fallos de CI Dado que el zócalo de CI general tiene terminales (sonda de resorte, paleta de placa, etc.) entre la placa y el dispositivo, el número de contactos aumenta y la señal se deterioraría o atenuaría, pero este zócalo se encuentra en un estado cercano a la soldadura. Es el ideal para evaluar dispositivos IC de alta velocidad porque suprime el deterioro de la señal. Además del tipo Latch Lock presentado en esta página, disponemos de la siguiente gama. - Cerradura de pestillo y cerradura de tornillo - Tipo palanca giratoria - Tipo tornillo se puede observar que las características mejoran cuando se utiliza un enchufe convencional y cuando se utiliza un enchufe de contacto directo. ・Como la tapa se puede poner y quitar simplemente presionándola desde arriba, el dispositivo se puede sustituir de forma eficiente. ・La gestión del par de apriete es innecesaria desde el ajuste del dispositivo hasta la preparación de la medición. ・Tenemos una línea de productos estándar que se ajustan a las dimensiones de los dispositivos QFN/SOP. ・Es posible una entrega rápida.