Software de análisis Waveline Map

gráficode posicionamientopara la industria del automóvil

Los sistemas de medición Waveline de Jenoptik se pueden utilizar para la medición de rugosidades o contornos. También ofrecemos sistemas que combinan estas dos funciones. Los sistemas de medición Waveline T8000, Surfscan y Nanoscan Jenoptik se pueden ampliar con un software de análisis 3D para topografía. El software Waveline Map le permite representar la textura de la superficie de las piezas como un gráfico para su evaluación. Waveline Map tiene un diseño intuitivo y es fácil de usar. Los datos medidos, por ejemplo, se pueden procesar previamente con respecto a la alineación, el filtrado y la eliminación de formas. Los recálculos automáticos se realizan tan pronto como cambian los pasos de evaluación. El sistema ofrece amplias opciones de filtrado metrológico y científico. El software de análisis 3D está disponible en tres versiones: Basic, Expert y Premium. Las versiones Expert y Premium cumplen con la norma ISO/TS 25178 para parámetros 3D. Además del software, también se requiere una mesa de posicionamiento en Y para las mediciones topográficas. Esto facilita el movimiento necesario de la pieza de trabajo. Las mesas pueden contener componentes de hasta 30kg de peso y funcionan con una precisión de guía de aproximadamente 5 μm. VENTAJAS • Flexible: Se puede utilizar en estaciones de medición para la medición de rugosidades cuando sea necesario • Sencillo:Software intuitivo fácil de usar • Rápido:Recálculos automáticos después de los cambios en los pasos de evaluación • Modular: Tres versiones diseñadas en cadena