Espectrómetro de fluorescencia de rayos X por dispersión de energía JED-2300T

para análisisde manoSDD

AnalysisStation JED-2300T es un sistema de integración de TEM/EDS basado en un concepto de "Imagen y Análisis". La gestión de datos se lleva a cabo mediante la recopilación automática de parámetros como el aumento y el voltaje de aceleración junto con los datos de análisis. Características Existen tres tipos de EDS con detector de deriva de silicio (SDD), con áreas de detección de 30 mm2, 60 mm2 y 100 mm2 respectivamente. Cuanto mayor es el área de detección, mayor es la sensibilidad de detección. Al incorporar el Detector Seco SD100GV (área de detección 100mm2) al JEM-ARM200F (HRP), se consigue simultáneamente una gran área de recepción de luz y una alta resolución, y es posible una clara distinción de elementos de luz como "B,C,N,O". Cartografía elemental de alta velocidad El detector seco SD100GV de alta sensibilidad detecta una partícula de catalizador de Au en sólo un minuto de tiempo de medición. - Muestra: Partícula de catalizador de Au sobre óxido de Ti - Instrumento: JEM-ARM200F + Detector seco SD100GV - Tiempo de medición aproximado: 1 minuto - Corriente de la sonda: 1nA - Número de píxeles: 256 x 256 píxeles - Resolución atómica - Las columnas atómicas de Sr y Ti están claramente segregadas. Resolución atómica Las columnas atómicas de Sr y Ti están claramente segregadas. - Espécimen: SrTiO3 - Instrumento: JEM-ARM200F + Detector Dry SD100GV - Tiempo de medición aprox.: 10 minutos - Corriente de la sonda: 1nA - Número de píxeles: 128 x 128 píxeles