Microscopio electrónico de barrido miXcroscopy™

de laboratoriode piede alta resolución

El mismo portamuestras puede utilizarse ahora tanto para el microscopio óptico como para el microscopio electrónico de barrido. Como resultado, mediante la gestión de la información de la platina con un software específico, es posible que el sistema registre las ubicaciones observadas con el microscopio óptico y, a continuación, amplíe las mismas áreas con el microscopio electrónico de barrido para observar las estructuras finas con mayor aumento y resolución. Ahora es posible comparar y verificar fácilmente las imágenes del microscopio óptico y las del microscopio electrónico de barrido. Características Adquisición de datos y observación intuitiva con el uso del color Al añadir información de color de luz visible de la imagen del microscopio óptico (que no puede obtenerse con la imagen SEM), proporciona una imagen SEM con un efecto visual más intuitivo. La búsqueda suave de objetivos aprovecha las características del microscopio óptico La observación con el microscopio óptico permite encontrar fácilmente las estructuras objetivo, que son difíciles de distinguir utilizando imágenes SEM. Evita que el haz de electrones dañe la muestra Para evitar daños o contaminación por el haz de electrones, primero se localiza la zona de interés con el microscopio óptico. Esto permite la observación SEM con una dosis mínima de radiación en el lugar de observación.