Microscopio electrónico de transmisión JEM-F200

para análisisde campo clarode campo oscuro

El JEM-F200 es un nuevo microscopio electrónico de transmisión de emisión de campo, que se caracteriza por una mayor resolución espacial y rendimiento analítico, un nuevo sistema de funcionamiento fácil de usar para operaciones polivalentes, un aspecto elegante y varios sistemas de ahorro de energía respetuosos con el medio ambiente. Características - Diseño inteligente El JEM-F200 tiene un nuevo y fino aspecto. Incorpora una nueva e intuitiva interfaz de usuario diseñada específicamente para la microscopía electrónica analítica. También presenta una estabilidad mecánica y eléctrica sobresaliente, que refleja la experiencia en ingeniería de JEOL acumulada a lo largo de los años. - Sistema de condensador de cuatro lentes La microscopía electrónica actual requiere el soporte de una amplia gama de técnicas de captura de imágenes, desde la TEM de campo claro/campo oscuro hasta la STEM que utiliza una variedad de detectores. El JEM-F200, con su nuevo sistema óptico de formación de sonda de 4 etapas, es decir, el sistema de condensador de cuatro lentes, controla la intensidad y el ángulo de convergencia del haz de electrones de forma independiente, para responder a los diferentes requisitos de la investigación. - Sistema de escaneo avanzado El JEM-F200 incorpora un nuevo sistema de escaneo, el Sistema de Escaneo Avanzado, que es capaz de escanear el haz de electrones en los sistemas de formación de la sonda de imagen. De este modo se consigue STEM-EELS de campo amplio. - Pico Stage Drive El JEM-F200 utiliza un accionamiento de platina pico, que es capaz de accionar la platina en pasos de 200 pico metros sin un accionamiento piezoeléctrico, y mover el área de visión con un amplio rango dinámico desde una rejilla de muestra completa hasta imágenes de orden atómico.