Microscopio electrónico de barrido JCM-7000

para análisis3Dde mesa

Los microscopios electrónicos de barrido de sobremesa se utilizan en una amplia gama de campos, como la electricidad, la electrónica, la automoción, la maquinaria, la química y la industria farmacéutica. Además, las aplicaciones de los microscopios electrónicos de barrido se están ampliando para abarcar no sólo la investigación y el desarrollo, sino también el control de calidad y la inspección de productos en los centros de fabricación. Con ello, aumenta la demanda de una mayor eficacia en el trabajo, un funcionamiento mucho más rápido y sencillo, y un mayor grado de capacidad analítica y de medición. El microscopio electrónico de barrido de sobremesa JCM-7000 se ha diseñado basándose en el concepto clave de "SEM fácil de usar con navegación fluida y análisis en directo". El JCM-7000 incorpora tres funciones innovadoras: "Zeromag" para una transición suave de la imagen óptica a la imagen SEM, "Análisis en vivo" para encontrar elementos constitutivos de un área de observación de imágenes y "3D en vivo" para mostrar una imagen 3D en vivo reconstruida durante la observación SEM. Al colocar el JCM-7000 junto a un microscopio óptico, se pueden realizar análisis de materiales extraños y controles de calidad más rápidos y detallados. Características Observación y análisis rápidos sin tratamiento de la muestra con el SEM de sobremesa JCM-7000 -Introducción al uso eficaz del modo de bajo vacío (LV) ¿Por qué no prueba una observación SEM de especímenes aislantes que no conducen la electricidad tal cual, sin ningún tratamiento previo? Presentaremos ejemplos de uso efectivo del JCM-7000 en modo de bajo vacío (LV) para materiales poliméricos, materiales industriales, minerales, alimentos y organismos vivos/plantas.