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Microscopio electrónico de barrido JSM-IT710HR
para análisisde electrones secundariosde alta resolución

microscopio electrónico de barrido
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Características

Tipo
electrónico de barrido
Aplicaciones técnicas
para análisis
Tipo de detector
de electrones secundarios
Otras características
de alta resolución, automático, de observación

Descripción

Una visibilidad clara fomenta nuevos descubrimientos Hoy en día, no sólo se considera importante la resolución y el rendimiento analítico en el orden nanométrico, sino también el rendimiento en la adquisición de datos. El recién nacido JSM-IT710HR es el modelo de cuarta generación de la serie HR* de JEOL, que se basa en el lema "SEM que permite a cualquiera tomar fácilmente imágenes de alta resolución". El JSM-IT710HR hace que los usuarios quieran ir más allá de lo que se ha visto, debido a la facilidad de manejo con funciones automáticas mejoradas y al mayor rendimiento de observación de un nuevo detector. *HR=Alta resolución

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Catálogos

Ferias

Este distribuidor estará presente en las siguientes ferias

JIMTOF 2024
JIMTOF 2024

5-10 nov. 2024 Tokyo (Japón)

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    * Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.