Microscopio FIB/SEM JIB-PS500i

de laboratorio3Dde alta resolución

El JIB-PS500i ofrece tres soluciones para ayudar a la preparación de muestras de MET. Se garantiza un flujo de trabajo de alto rendimiento desde la preparación de la muestra hasta la observación TEM. Características TEM-LINKAGE El uso del cartucho de doble inclinación y el soporte para TEM* de JEOL facilita el acoplamiento entre el TEM y la FIB. El cartucho puede acoplarse al portamuestras TEM específico con un solo toque. flujo de trabajo de transferencia de muestras con el cartucho de doble inclinación* El OmniProbe 400* (Oxford Instruments) adoptado permite realizar operaciones de recogida y manipulaciones precisas y fluidas. Las operaciones de la OmniProbe 400* están integradas en el software de la JIB-PS500i. ●OmniProbe 400* CHECK-AND-GO Para preparar de forma precisa y eficiente una muestra de TEM, es esencial comprobar rápidamente el progreso de la preparación. Con su platina de alta inclinación y su esquema de detectores, el JIB-PS500i permite una transición fluida del fresado FIB a la obtención de imágenes de microscopio electrónico de transmisión por barrido (STEM). Las rápidas transiciones entre el procesamiento de láminas y la obtención de imágenes STEM permiten una preparación eficaz de las muestras. PREPARACIÓN AUTOMÁTICA La JIB-PS500i automatiza la preparación de muestras mediante el sistema automático de preparación de muestras STEMPLING2* para TEM. Este sistema automático permite a cualquier operador preparar muestras para TEM sin problemas. Imágenes SEM de ALTA RESOLUCIÓN y ALTO CONTRASTE Deje de dudar, deje de perderse el punto final en el fresado. Las imágenes SEM de alta calidad le ayudan. - Sistema de detección de señales Dispone de varios detectores, como el SED estándar, el UED y el iBED. La selección del detector óptimo permite observar imágenes nítidas de diversas muestras en distintas condiciones experimentales.