Microscopio electrónico JEM-ARM300F2

para análisisde piede emisión de campo frío

Lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico de resolución atómica El "GRAND ARM™2" ha sido actualizado. Este nuevo "GRAND ARM™2" permite la observación a una resolución espacial ultra alta con análisis de alta sensibilidad en una amplia gama de voltajes de aceleración. Característica1 - Lente objetiva FHP2 de nuevo desarrollo pieza-polo El poste de la lente del objetivo FHP está optimizado para la observación con resolución espacial ultraalta. Al tiempo que se mantiene esta capacidad, la forma de la pieza de poste se ha optimizado aún más para el ángulo sólido de rayos X y el ángulo de despegue de los SDD duales de gran tamaño (158 mm2). Como resultado, la eficiencia efectiva de detección de rayos X del FHP2 es más del doble de sensible que la del FHP. Puede proporcionar una resolución sub-angstrom en los mapas elementales EDS. Característica2 - Nueva carcasa La columna TEM está cubierta por un recinto tipo caja, que puede reducir el efecto de los cambios ambientales como la temperatura, el flujo de aire, el ruido acústico, etc., y mejora la estabilidad del microscopio. Característica3 - Corrector ETA & JEOL COSMO™ Corrección de aberraciones rápida y precisa JEOL COSMO™ utiliza sólo 2 Ronchigramas adquiridos de cualquier área amorfa para medir y corregir aberraciones. Por lo tanto, el sistema puede proporcionar una corrección de aberraciones Rápida y Precisa sin muestras dedicadas. Característica4 - Mejora de la estabilidad El nuevo CFEG (cañón de electrones de emisión de campo frío) adoptó un SIP más pequeño con un mayor volumen de evacuación que antes para GRAND ARM™2. El aumento del volumen de evacuación del SIP mejora el grado de vacío cerca del emisor dentro del CFEG, y también mejora la estabilidad de las corrientes de emisión y de sonda. La miniaturización del SIP puede reducir la masa total del CFEG en ~100 kg.