Microscopio electrónico de barrido JSM-IT810

de inspecciónde emisión de campo SchottkyEBSD

La versatilidad y la alta resolución espacial se unen a la automatización con la FE-SEM de la serie JSM-IT810. La automatización sin codificación para la captura de imágenes y el análisis EDS está integrada para un flujo de trabajo racionalizado y eficiente. Las nuevas funciones disponibles garantizan datos de alta calidad y una experiencia de usuario mejorada para todos los usuarios de SEM. Entre las funciones se incluyen el paquete de ajuste automático del SEM, una función de corrección trapezoidal (útil para las mediciones EBSD) y la reconstrucción de superficies 3D en vivo para la observación de la topografía de superficies. Con la serie JSM-IT810, manejar un SEM de EF nunca ha sido tan fácil. La observación SEM y el análisis EDS pueden automatizarse simplemente ajustando las condiciones de análisis y seleccionando las áreas a medir. Paquete de ajuste automático SEM (opcional): Esta función utiliza una muestra dedicada para realizar la calibración del aumento, la alineación del haz y la calibración de la energía EDS. Las comprobaciones periódicas garantizan que el equipo se mantenga en condiciones óptimas.Elija nuestro detector BSE multisegmentado de tipo semiconductor para crear una reconstrucción 3D en vivo de la superficie de la muestra.Visualice la imagen 3D en tiempo real para comprobar la topología de la muestra. Operatividad de nueva generación que elimina las barreras entre la observación por SEM y el análisis elemental por EDS. Varios métodos de análisis como punto, área, MAP y línea pueden reservarse directamente en la pantalla de observación, permitiendo el inicio inmediato de un análisis.