Microscopio electrónico de transmisión JEM-ARM200F

para análisisde emisión de campo fríocon cámara digital

"NEOARM" / JEM-ARM200F viene con el exclusivo cañón de emisión de campo frío (Cold FEG) de JEOL y un nuevo corrector Cs (ASCOR) que compensa las aberraciones de alto orden. La combinación de un FEG frío y un ASCOR permite obtener imágenes de resolución atómica no sólo a una tensión de aceleración de 200 kV, sino también a una tensión baja de 30 kV. "NEOARM" también está equipado con un sistema de corrección automática de aberraciones que incorpora el nuevo algoritmo de corrección de aberraciones de JEOL para una corrección automática de aberraciones rápida y precisa. Este sistema permite obtener imágenes de mayor resolución atómica. Además, se incorpora como unidad estándar un nuevo detector STEM que proporciona un contraste mejorado de los elementos de luz. La mejora del contraste de los elementos ligeros se consigue mediante una nueva técnica de obtención de imágenes STEM (e-ABF: enhanced ABF), que facilita la observación de materiales con elementos ligeros, incluso con voltajes de aceleración bajos. La sala del microscopio está separada de la sala de operaciones para responder a una operación remota. Además, se adopta el nuevo concepto de colores de los productos JEOL, "blanco puro" y "plata JEOL", lo que da lugar a un sofisticado diseño exterior del "NEOARM". Características Característica 1 Corrector de la aberración esférica (Cs) ASCOR (Advanced STEM corrector) El ASCOR incorporado en "NEOARM" puede suprimir el astigmatismo séxtuple que limita la resolución tras la corrección Cs. La combinación de ASCOR y Cold FEG proporciona una baja aberración cromática y amplía el límite de difracción, logrando una resolución más alta que nunca.