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Microscopio EDX PSEpara inspección de materialcorrelativo
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Características
- Tipo
- EDX
- Aplicaciones técnicas
- para inspección de material
- Otras características
- correlativo
Descripción
Microscopía correlativa: Combinación de datos ópticos y de SEM
SEM con EDX: JOMESA PSE
-Lectura de información de partículas de la base de datos
-Análisis SEM-EDX rápido de partículas seleccionadas
-Opcional: Análisis completo o análisis de todas las partículas ópticas
-Almacena los resultados en la base de datos
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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.